TSMC N2P 工艺前瞻
TSMC N2P 工艺前瞻——基于 Synopsys 公开 PDK
Kurnal Insights
Synopsys 发布了 TSMC N2P 的 PDK。在下一代工艺充满”PPT 宣传艺术”的时刻,PDK 让我们能确认真实的工艺密度数据。
PVT 工艺角
PDK 的工艺角(Process Corner)共分 6 种:
- Extreme Low VT
- Low VT
- Low VT Low Leakage
- Standard VT
- Ultra Low VT
- Ultra Low VT Low Leakage
逻辑库
High Density(HD)
- Cell H:130 nm
- Gate Pitch:48 nm
- Gate Length:3 nm
High Speed(HP)
- Cell H:156 nm
- Gate Pitch:48 nm
- Gate Length:3 nm
密度计算
基于 Cell Height 与 Gate Pitch 可推算逻辑密度:
| TSMC N2P | HD | HP |
|---|---|---|
| Gate Length | 3 nm | 3 nm |
| Cell Height | 130 nm | 156 nm |
| Gate Pitch | 48 nm | 48 nm |
| Logic Density | 236.17 MTr/mm² | 196.81 MTr/mm² |
观察一:HD/HP 比值收窄
可以很清晰发现:从 Gate Pitch 角度,GAA 世代后,HD/HP 都采用了相同的 Gate Pitch。
| 工艺 | HD : HP |
|---|---|
| TSMC N7 | 1.4 : 1 |
| TSMC N2 | 1.2 : 1 |
自 GAA 世代开始,HD vs HP 的逻辑密度比值越来越小——根本原因是:不再增加 Fin 数量,而是改成增加 GAAFET 的宽度。
观察二:相对 N3P 的 scaling
那么这个密度对比自家 N3P 是什么水平?先看 N3P 的完整库矩阵:
| TSMC N3P | No used | Mixed HD | Standard | Mixed HP | HP |
|---|---|---|---|---|---|
| Finflex | 1-1 | 2-1 | 2-2 | 3-2 | 3-3 |
| Cell Height | 117 nm | M143 nm | 169 nm | M195 nm | 227 nm |
| Gate Pitch | 48 nm | 48 nm | 48/54 nm | 54 nm | 54 nm |
| Logic Density | 262.41 | 214.7 | 181.67 / 161.48 | 139.95 | 120.22 MTr/mm² |
HD 对比
| TSMC N2P HD | TSMC N3P 2-1 | TSMC N3P Std HD 2-2 | |
|---|---|---|---|
| Cell H | 130 nm | M143 nm | 169 nm |
| Gate Pitch | 48 nm | 48 nm | 48 nm |
| Logic Density | 236.17 MTr | 214.7 MTr | 181.67 MTr |
如果跟 N3P 的 Mixed 2-1 HD 对比,N2P HD 密度仅 +10%(236.17 / 214.7 ≈ 1.1)。
但 N3 有个 Finflex 玩法、有不能使用的 lib(H117P48)。抛开 Finflex,对比 N3P Standard HD(181.67 MTr):N2P HD 增大了 30%,还是可观的。
Gate Pitch 则保持 48 nm 不变,未发生 scaling。
HP 对比
| TSMC N2 HP | TSMC N3 Std HP | |
|---|---|---|
| Cell H | 156 nm | 169 nm |
| Gate Pitch | 48 nm | 54 nm |
| Logic Density | 196.81 MTr | 161.48 MTr |
N2 HP 相比 N3P Standard HP 增大 21.87%,靠的主要是 Gate Pitch 从 54 nm 收缩到 48 nm。