Skip to content
Blog
工艺分析

TSMC N2P 工艺前瞻

TSMC N2P 工艺前瞻——基于 Synopsys 公开 PDK

Kurnal Insights

Synopsys 发布了 TSMC N2P 的 PDK。在下一代工艺充满”PPT 宣传艺术”的时刻,PDK 让我们能确认真实的工艺密度数据。

PVT 工艺角

PDK 的工艺角(Process Corner)共分 6 种

  • Extreme Low VT
  • Low VT
  • Low VT Low Leakage
  • Standard VT
  • Ultra Low VT
  • Ultra Low VT Low Leakage

逻辑库

High Density(HD)

  • Cell H:130 nm
  • Gate Pitch:48 nm
  • Gate Length:3 nm

High Speed(HP)

  • Cell H:156 nm
  • Gate Pitch:48 nm
  • Gate Length:3 nm

密度计算

基于 Cell Height 与 Gate Pitch 可推算逻辑密度:

TSMC N2PHDHP
Gate Length3 nm3 nm
Cell Height130 nm156 nm
Gate Pitch48 nm48 nm
Logic Density236.17 MTr/mm²196.81 MTr/mm²

观察一:HD/HP 比值收窄

可以很清晰发现:从 Gate Pitch 角度,GAA 世代后,HD/HP 都采用了相同的 Gate Pitch

工艺HD : HP
TSMC N71.4 : 1
TSMC N21.2 : 1

自 GAA 世代开始,HD vs HP 的逻辑密度比值越来越小——根本原因是:不再增加 Fin 数量,而是改成增加 GAAFET 的宽度。

观察二:相对 N3P 的 scaling

那么这个密度对比自家 N3P 是什么水平?先看 N3P 的完整库矩阵:

TSMC N3PNo usedMixed HDStandardMixed HPHP
Finflex1-12-12-23-23-3
Cell Height117 nmM143 nm169 nmM195 nm227 nm
Gate Pitch48 nm48 nm48/54 nm54 nm54 nm
Logic Density262.41214.7181.67 / 161.48139.95120.22 MTr/mm²

HD 对比

TSMC N2P HDTSMC N3P 2-1TSMC N3P Std HD 2-2
Cell H130 nmM143 nm169 nm
Gate Pitch48 nm48 nm48 nm
Logic Density236.17 MTr214.7 MTr181.67 MTr

如果跟 N3P 的 Mixed 2-1 HD 对比,N2P HD 密度仅 +10%(236.17 / 214.7 ≈ 1.1)。

但 N3 有个 Finflex 玩法、有不能使用的 lib(H117P48)。抛开 Finflex,对比 N3P Standard HD(181.67 MTr):N2P HD 增大了 30%,还是可观的。

Gate Pitch 则保持 48 nm 不变,未发生 scaling

HP 对比

TSMC N2 HPTSMC N3 Std HP
Cell H156 nm169 nm
Gate Pitch48 nm54 nm
Logic Density196.81 MTr161.48 MTr

N2 HP 相比 N3P Standard HP 增大 21.87%,靠的主要是 Gate Pitch 从 54 nm 收缩到 48 nm。